1. Transcend JetFlash V10 TS16GJFV10 (16 Гб разумеется)
2. VID 058F PID 6387 (флешка уже ремонтировалась до меня, поэтому возможно vid/pid другие, но исходя из поиска по сайту, видимо всё же верные)
3. Контроллер Alcor 6986
4. Память 2 шт. FCGSMMP-1Q04 T0849
5. Попытки восстановления следующими программами JetFlashOnlineRecovery, AlcorMP(090227), AlcorMP(081208), AlcorMP(101026.MD)
6. Началось с «недостаточно места на диске»(возможно написал не дословно). Пробовал выше перечисленными Alcor'ами – неправильно определяет контроллер и память. Контроллер определяет как 6983, а память как Samsung K9HCG08U1M. В результате тест на бэд блоки возможно провести примерно от Fullscan4 до Fastscan4, остальное движется крайне медленно. Fullscan4 прошёл, но при попытке тестово забить полный объём флешки, получаю её исходное состояние(недостаточно...) с зависаниями. Fullscan1 пропахал около 22-х часов, дошёл до 35% и был прерван по случайности кем то из коллег. Заново его запускать, не вижу смысла, потому как получается 60 часов сканирования с неизвестным результатом. На данный момент получается флешка, про которую chipgenius_v2.72 говорит следующее:
Запоминающее устройство для USB(Generic USB Flash Disk USB Device)(Ki...
PnP Device ID: VID = 058F PID = 1234
Serial Number: 5&&8639F5&&0&&5
Revision: 7.76/1.00
Device Type: Standard USB device -
Chip Vendor: Alcor(??)
Chip Part-Number: AU9386~AU6983
Product Vendor: Generic
Product Model: USB Flash Disk
7. Все процедуры опробованы как на Windows 7, так и на Windows XP, результат одинаков.
Со статьёй «Восстановление флэш накопителей после программых сбоев» ознакомился.
HP USB Disk Storage Format Tool (HPUSBFW_Special) опробовал, не помогло.
Ну и соответственно сам вопрос – что можно ещё попробовать?
Контроллер определяет как 6983, а память как Samsung K9HCG08U1M - это нормально, память перемаркированный SAMSUNG, работает хорошо даже при 25ns. Контроллер можно перезапустить методом замыкания ножек памяти, посмотри в разделе статьи. Подключать флешку напосредственно в порт USB на системной плате, использовать Windows XP, Fastscan4 обычно достаточно, но можно один раз для поряда Fullscan1 прогнать.
Прокатал пару раз на fastscan4(Оптимальный вариант был выбран capacity optimize, rw cycle time - default, потому как 25 нс делает сканирование только медленнее, один раз даже вылетала ошибка при сканировании), ожила. Но при попытке залить флешку полностью опять вылетает ошибка.
Проверил флешку mydisktest_v2.42, говорит что "Found bad block(s) for about 2 mb".
Все процедуры проводились на XP, флешка была воткнута в разъём материнской платы.
Какие есть ещё варианты?
Есть ли смысл запускать fullscan1 на 60 часов, если да, то с какими настройками?
оптимизация:capacity optimize, rw cycle time - поставь самый медленный 133ns, прогони на нем с fastscan1, если пройдет то уменьшай по одному шагу вниз rw cycle time, возможно память подсбаивает при меньших параметрах обращения. Проверь питание на памяти и контроллере по даташиту. Нет особого смысла запускать навороченную проверку на б.блоки когда видно ненормальное поведение железа при стандартных настройках алькора(default должно отрабатывать без сбоя). Сброс контроллера не делали?
Посмотрел осциллографом питание контроллера по даташиту. Всё путём кроме одного, на 16 ноге VDD33C 3.3V output for flash chip (я так понимаю питание на память), странная картинка, которую прикладываю к сообщению. Шаг сетки по вертикали 2В, дискретизация 500 мкс/дел, ноль где голубая стрелка.
(http://D:%5C%D0%A0%D0%B0%D0%B7%D0%BD%D0%BE%D0%B5%5C!%D0%A0%D0%B5%D0%BC%D0%BE%D0%BD%D1%82,%20%D1%81%D1%85%D0%B5%D0%BC%D1%8B,%20%D0%BF%D1%80%D0%BE%D1%88%D0%B8%D0%B2%D0%BA%D0%B8,%20%D0%B8%D0%BD%D1%81%D1%82%D1%80%D1%83%D0%BA%D1%86%D0%B8%D0%B8%5CUSB-%D1%84%D0%BB%D0%B5%D1%88%D0%BA%D0%B8%5C%D0%92%D0%9E%D0%A1%D0%A2%D0%90%D0%9D%D0%9E%D0%92%D0%9B%D0%95%D0%9D%D0%98%D0%95%20FLASH%5CFLASH%5CFLASH%5CCONTROLER%5CALCOR%5C%D0%9E%D0%BB%D0%B5%D0%B3%5CAU6986-16pin-3.3V_output_for_flash_chip.JPG)
Сброс контроллера делал.
Цитироватьоптимизация:capacity optimize, rw cycle time - поставь самый медленный 133ns, прогони на нем с fastscan1, если пройдет то уменьшай по одному шагу вниз rw cycle time, возможно память подсбаивает при меньших параметрах обращения.
Теперь буду попробовать это.
если правильно понял, то напруга со встроенного в контроллер генератора напряжения VDD33C скачет в пределах 3В с размахом 0,2В? попробуй электролитом 500-1000мкф х 6,3в застабилизировать, лучше снимать напругу питания на ножке питания памяти, вдруг там подводящая дорожка от контроллера садит питание, сними осциллограмму питания при работе алькора, на операциях форматирования и проверках контроллер может импульсно потреблять ток до 100мА, может в это время на питании памяти провалы, тогда и бед блоки могут сыпать..
Цитироватьесли правильно понял, то напруга со встроенного в контроллер генератора напряжения VDD33C скачет в пределах 3В с размахом 0,2В? попробуй электролитом 500-1000мкф х 6,3в застабилизировать, лучше снимать напругу питания на ножке питания памяти, вдруг там подводящая дорожка от контроллера садит питание, сними осциллограмму питания при работе алькора, на операциях форматирования и проверках контроллер может импульсно потреблять ток до 100мА, может в это время на питании памяти провалы, тогда и бед блоки могут сыпать..
Проверил питание, всё путём.
Дальше больше, или уже хуже, даже не знаю как правильней.
При стандартных настройках(да и при оптимизации памяти) проходит только fastscan4(тот который самый шустрый), на все остальные рано или поздно получаю ошибку "user abort error", причём проверка чем серьёзнее, тем ближе по длительности к бесконечности.
Есть ещё какие-либо соображения?
Вопрос решён. Тему можно помечать как "решено"
Делалось прогой AlcorMP 0905.....01 (остальные цифры запамятовал, делалось на другом компе)
Использованы следующие настройки отличные от стандартных:
LLF Check: "Half capacity Check"
ECC: 3
после этого флешка прогнана ещё два раза: на стандартных настройках и на fast scan'е со значением Scan Mode: High Level Format.