Поиск

[Grapaf]

1. Флешка silicon power touch 850 32Gb
2. VID 090C, PID 1000
3. Контроллер SM3252B
4. Микросхема памяти MICRON MT29F32G08MAA

Информация получена программой SMI Mass Production Tool v.2.02.04 (SMI_Test_SM32x_I1126_v2.02.04_v5)

Форматируется без проблем при помощи HPUSBFW_Special, показывает полный объём. Бенчмарк из MyDiskTest 2.42 проходит все свои 6 шагов, включая создание/удаление файлов, блочное чтение/запись, random access.

Теперь о проблеме: днём флешка читалась/писалась без проблем, после чего была вынута из компьютера без использования "безопасного извлечения". Вечером была вставлена в другой комп, где выяснилось, что большинство файлов не читается/копируется начиная от "система не может найти указанный файл", заканчивая пропаданием флешки из системы. Мелкие файлы удалось слить перетыкая флешку после каждого облома, на крупных не прокатило, флешка отваливалась. Стандартное виндовое форматирование выдавало ошибку. После использования SMI Test стало нормально форматироваться, но после попытки залить на флешку более примерно 5 мегабайт данных проблема возвращается.

Можно ли восстановить флешку? Если нужны иные данные, они будут предоставлены. Заранее спасибо.

[_ANDY_]

Давайте для начала уточним!
У вас восемь микрух - MT29F32G08MAA ? (ибо в одной всего 4Гига)

Либо с маркировкой косяк, либо вы флэшку не разбирали!
Я не могу представить в таком корпусе восемь чипов памяти!

Есть вероятность, что подделка? Гарантия есть?

[Grapaf]

девайс такой
http://www.silicon-power.com/product/pro_detail.php?main=10&sub=40&pro=113&sub_v=&currlang=utf8
на момент поломки было занято 61% от 32 гигов, читались нормально Гарантии нет, покупался в Москве на Савеловском, когда был проездом в этом городе. Информация о микросхеме памяти взята из SMI Test, я не всё дописал, там после приведённой мной маркировки в скобках есть [2C, D7, 94, 3E] (MLC), может это поможет. Количество микросхем памяти визуально оценить не могу, корпус не разборный. Может ли ошибаться SMI Test? Может стоит чем-нибудь другим посмотреть?

[Grapaf]

Уточнение: MyDiskTest использовался ранее в режиме speed. При попытке запуска в режиме "bad blks"+"Do full scan" отваливается в самом начале с сообщением
"Testing drive [G:]...Fatal I/O ERROR occurred!"
Error reading absolute address 0x00000003!

[_ANDY_]

Теперь я уверен, что это не фэйк!
Объяснить могу так:
У этой микросхемы один канал выборки , а контроллер может работать с 8-ю!
т.е. внутри флэшки припаяны 2 чипа памяти с параметром выборки (CE=4) это максимум что я встречал у NAND Flash. Каждый чип построен из четырёх MT29F32G08MAA.
Вывод: должна помочь та же утилита - SMI Mass Production Tool v.2.02.04 (SMI_Test_SM32x_I1126_v2.02.04_v5)
Но, для неё подробных инструкций нет, так, что придётся по экспериментировать с настройками форматирования, чтобы утилита нашла и пометила все Bad Bloks.